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工信部张新生:TD-LTE终端测试仍需再加码

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11月27日,在上周召开的由工信部电信研究院和TD技术论坛联合主办的“2012TD-LTE测试技术研讨会”上,工业和信息化部电信管理局巡视员张新生表示,终端对整体推动TD-LTE发展和产业链各环节健康有序进行至关重要,而LTE终端的发展需要站在两个制高点上去考虑,一个是芯片,一个是操作系统和应用。

来源:C114 2012年11月27日

关键字: TD-LTE

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11月27日,在上周召开的由工信部电信研究院和TD技术论坛联合主办的“2012TD-LTE测试技术研讨会”上,工业和信息化部电信管理局巡视员张新生表示,终端对整体推动TD-LTE发展和产业链各环节健康有序进行至关重要,而LTE终端的发展需要站在两个制高点上去考虑,一个是芯片,一个是操作系统和应用。

据张新生介绍,不管是TDD还是FDD,LTE终端都需要解决功耗问题,在电源控制技术和芯片制造技术上满足功耗的需求。“从目前看,功耗需求如果无法满足,LTE的终端就不可能实现老百姓的商用,其中最重要的原因就在于,过去主要是多频单模的手机,但是现在为满足LTE的发展,手机必须是全模全频,而在全模全频的条件下还要解决功耗问题就变得非常重要。因此,提供全模全频的28纳米的芯片将是一个发展中的战略制高点。”

另外,张新生指出,随着云计算、移动互联网、物联网和IPV6的发展,这将对终端提出一个更高的要求,就是不能再做功能机了,“智能终端的发展速度已经远远超过了功能机,而且随着以终端为界面的移动互联网发展,目前智能机的发展已经超过PC的发展。所以未来终端既是通信工具又是互联网的工具,那么在互联网的大前提下,它肯定要有各种应用,也就是说终端设备,不仅仅是要关注于硬件平台,还要关心操作系统和更多应用。”

张新生表示,芯片市场发展迅速,未来将会有双模或者多频多模TD-LTE终端出现。而要想把这些实验室的产品推向市场,必须要使产品能够保证消费者的权益,满足消费者使用过程中的质量要求,仪表测试技术和仪器就变得非常关键。为此,一是需要打造良好测试环境,二是建立完善的测试标准体系。

“测试技术和仪表基本可以满足当前对系统设备测试的要求。”张新生认为,“然而,对终端测试的有关标准和仪器仪表仍需要再加码,这是因为要把终端推向市场,必须制定出一套适应其发展的测试标准,按照这个标准进行检测。这就靠一套能够检测出或者按照标准去检测的仪器仪表。”

另外,张新生认为,由于测试时间长和价格高昂,导致TD-SCDMA终端发展状况并不可观,因此,在推动TD-LTE终端发展时,不仅要有好的测试环境、手段和条件,还要仪表企业提供速度快、价格便宜、方便的终端测试。实际上,仪表在推动整个产业中起到非常重要的作用。


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